Rambler's Top100 о нас  
наша почта  
контакты  
Продукция
Растровые микроскопы | Растровый электронный микроскоп РЭМ... English  
 
ВАКУУМНАЯ ТЕХНИКА
Вакуумметры
Датчики вакуума
Установки для напыления
Универсальный вакуумный пост ВН 2000 и ВН 2000 (-08)
Аксессуары к универсальному вакуумному посту ВН 2000
Вакуумная установка препарирования электронно-микроскопических объектов
Универсальный вакуумный пост ВН 3000
Аксессуары к универсальному вакуумному посту ВН 3000
Мишени и источники испарения
Насосы и запорная арматура
Системы комплексы напуска газов
Услуги
Нестандартное вакуумное оборудование изготовленное по ТЗ заказчика
МАСС-СПЕКТРОМЕТРЫ
Изотопные
Химические и биохимические
Квадрупольные
ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ
Растровые микроскопы
Просвечивающие микроскопы
Дополнительное оборудование
СПЕКТРОМЕТРИЯ
Рентген-флуоресцентные анализаторы
Атомно-флуоресцентные спектрофотометры
Атомно-абсорбционные спектрофотометры
Аксессуары к атомно-абсорбционным спектрофотометрам
Минерализатор
ИК-спектрофотометры
Иммуноферментные анализаторы
Биохимические анализаторы
УФ-ВИД СПЕКТРОФОТОМЕТРЫ
Флюориметры
Пламенные фотометры
Измерители хлоридов
Услуги
ХРОМАТОГРАФЫ
Газовые хроматографы
Устройство пробоподготовки масел УПМ-1
Жидкостные хроматографы
СВАРОЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
Электронно-лучевая аппаратура
Точечная сварка
Вакуумный комплекс
Модернизация системы управления ЭЛА
ЛАБОРАТОРНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
Анализаторы азота (блок перегонки) методом Къельдаля
Дигесторы (печи)
Анализаторы афлатоксинов
Анализаторы жиров и масел (по Сокслету)
Анализатор клетчатки
Потенциометрия
Ультразвуковые ванны
УЛЬТРАЗВУКОВЫЕ ДИСПЕРГАТОРЫ
Световые микроскопы
Прибор определения числа падения
Аквадистилляторы электрические
Шкафы сушильные
ЛАБОРАТОРНОЕ ПОСУДА
УСЛУГИ
Ремонт оборудования
Эл.-лучевая сварка в вакууме
Модификация поверхностей
Оптимизация ионно-оптических систем
 
 
 
Поиск по сайту
 
Растровый электронный микроскоп РЭМ-106

Увеличить (11 Кб)
Увеличить (10 Кб)

РЭМ-106 — растровый измерительный электронный микроскоп с камерой низкого вакуума для исследований в материаловедении, нанотехнологиях, физике, химии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях с гарантированными метрологическими параметрами измерений линейных размеров субмикронного диапазона и массовой доли элементов в составе исследуемых объектов. Занесен в Госреестр Украины и Российской Федерации как средство измерения.

Основные достоинства и особенности прибора:
  • быстрое, с гарантированной точностью, измерение линейных размеров объектов;
  • определение элементного состава объектов методом рентгеновского микроанализа с гарантированной точностью;
  • высокое качество электронно-оптических изображений поверхности проводящих и диэлектрических объектов без специального приготовления в режимах вторичных (ВЭ) и отраженных электронов (ОЭ);
  • набор тестовых образцов для калибровки и поверки метрологических параметров, электронно-оптического увеличения, разрешающей способности в режиме ВЭ и ОЭ, калибровки и поверки системы микроанализа; набор эталонов для количественного микроанализа;
  • конструкция вакуумной системы, обеспечивающая два рабочих режима в камере объектов: высоковакуумный (классический РЭМ) и низковакуумный регулируемый – для исследования диэлектрических объектов;
  • электронно-оптическая система с повышенной защищенностью от внешних электромагнитных полей;
  • высокая виброустойчивость;
  • объективная линза с разделительными диафрагмами для дифференциальной откачки камеры объектов и электронной пушки;
  • управление вакуумной, электронно-оптической, энерго-дисперсионной системами прибора и механизмом перемещения объектов, а также визуализацию и хранение изображений и результатов микроанализа обеспечивается персональным компьютером;
  • документирование изображений и спектров высокоразрешающим принтером;
  • отображение информации о состоянии прибора на дисплее компьютера.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Параметр Значение
Разрешение в режиме высокого вакуума (ВЭ), nm 4
Разрешение в режиме низкого вакуума (ОЭ), nm 6
Максимальный размер изображения, pixels 1280×960
Диапазон регулирования давления в камере, Pa 1 - 270
Диапазон ускоряющих напряжений, kV 0,5 - 30
Диапазон регулирования увеличений, × 15 - 300000
Максимальный размер объекта, mm 50
Диапазон перемещений объекта:
• по координатам X, Y, mm ±25
• по координате Z, mm 50
• наклон,° -20 до 60
• поворот, ° 360
Время смены образца, min 5
Диапазон измерений линейных размеров, µm 0,2 - 5000
Пределы допускаемой основной погрешности измерений линейных размеров, не более:
• в диапазоне от 0,2 µm до 0,8 µm, nm ±40
• в диапазоне свыше 0,8 µm до 5000 µm, % ±4
Диапазон анализируемых элементов:
• в режиме высокого вакуума 5B - 92U
• в режиме низкого вакуума 12Mg - 92U
Разрешение ЭДС, eV 139
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли элемента в диапазоне от 6С до 92U
в составе массивных образцов, не более:
• для элементов с диапазоном массовой доли свыше 10 %, % ±4
• для элементов с диапазоном массовой доли свыше 1 % до 10 %, % ±20
• для элементов с диапазоном массовой доли от 0,1 % до 1 %, % ±50
Напряжение питания (1 фаза), V 220
частота, Hz 50/60
Потребляемая мощность, kVА 2,5
Габаритные размеры (колонна со стендом), mm, не более:
• длина 1050
• ширина 2100
• высота 1850
Масса, kg, не более 685
Опции:
  • автономная система водяного охлаждения;
  • набор эталонных объектов геологического происхождения
  • варианты комплектности (камера низкого вакуума и ЭДС) – по согласованию с потребителем.


 
 
 
bigmir)net TOP 100
НПП УкрРосПрибор, 2004
Дизайн и программирование "Студия ourNet", 2004